VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
AvLaung-Terng Wang,Cheng-Wen Wu
Häftad, Engelska, 2006
668 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Produktinformation
Hoppa över listan
Mer från samma författare
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Inbunden, 2006
801 kr
System-on-Chip Test Architectures
Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
Inbunden, 2008
752 kr
Electronic Design Automation
Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng
Inbunden, 2009
969 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Inbunden, 2006
801 kr
System-on-Chip Test Architectures
Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
Inbunden, 2008
752 kr
Electronic Design Automation
Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng
Inbunden, 2009
969 kr
Passion For Life, A: My Lifetime Companion, Felicia
Cheng-wen Wu, Chwan-wen Liu
Inbunden, 2009
1 280 kr
- -30%
- -30%
- -22%
Del 2