VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
AvLaung-Terng Wang,Cheng-Wen Wu
Häftad, Engelska, 2006
674 kr
Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Produktinformation
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 1
- -30%
Del 2
Del 3
Machine Learning an Artificial Intelligence Approach (Volume I)
Ryszard S. Michalski, Jaime G. Carbonell
Häftad
557 kr