Häftad, Engelska, 2006
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Av Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu
713 kr
Beställningsvara. Skickas inom 11-20 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2006-07-21
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 808
- Förlag: Morgan Kaufmann Publishers
- ISBN: 9781493300860
Utforska kategorier
- Inga kategorier tillgängliga.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.