VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
AvLaung-Terng Wang,Cheng-Wen Wu
Häftad, Engelska, 2006
690 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Produktinformation
Hoppa över listan
Mer från samma författare
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Inbunden, 2006
829 kr
System-on-Chip Test Architectures
Laung-Terng Wang, Charles E. Stroud, Nur A. Touba
Inbunden, 2008
780 kr
Electronic Design Automation
Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng
Inbunden, 2009
1 011 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- 10% rabatt på allt
VLSI Test Principles and Architectures
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen
Inbunden, 2006
829 kr
Machine Learning an Artificial Intelligence Approach (Volume I)
Ryszard S. Michalski, Jaime G. Carbonell
Häftad, 1984
570 kr
Virtual Machines: Versatile Platforms for Systems and Processes
Jim Smith, Ravi Nair
Häftad, 2005
714 kr
Usability Engineering: Scenario-Based Development of Human-Computer Interaction
Mary Beth Rosson, John M. Carroll
Häftad, 2001
703 kr
Visual Computing for Medicine: Theory, Algorithms, and Applications
Bernhard Preim, Dirk Bartz
Häftad, 2007
861 kr