VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

AvLaung-Terng Wang,Cheng-Wen Wu

Häftad, Engelska, 2006

678 kr

Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

Produktinformation

Hoppa över listan

Mer från samma författare

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

  • Nyhet

Sallad!

Danyel Couet

Kartonnage

279 kr