Häftad, Engelska, 2015
Spectroscopic Ellipsometry for the In-situ Investigation of Atomic Layer Depositions
Av Varun Sharma
861 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2015-04-27
- Mått: 148 x 210 x 7 mm
- Vikt: 154 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 112
- Upplaga: 15001
- Förlag: Grin Verlag
- ISBN: 9783656923152
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.