• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Elektronik och kommunikationer

    Drift Diffusion Equation and Its Applications in MOSFET Modeling

    AvWilfried Hänsch

    Häftad, Engelska, 2011

    Del i serien Computational Microelectronics

    546 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    To be perfect does not mean that there is nothing to add, but rather there is nothing to take away Antoine de Saint-Exupery The drift-diffusion approximation has served for more than two decades as the cornerstone for the numerical simulation of semiconductor devices. However, the tremendous speed in the development of the semiconductor industry demands numerical simulation tools that are efficient and provide reliable results. This makes the development of a simulation tool an interdisciplinary task in which physics, numerical algorithms, and device technology merge. For the sake of an efficient code there are trade-offs between the different influencing factors. The numerical performance of a program that is highly flexible in device types and the geometries it covers certainly cannot compare with a program that is optimized for one type of device only. Very often the device is sufficiently described by a two­ dimensional geometry. This is the case in a MOSFET, for example, if the gate length is small compared with the gate width. In these cases the geometry reduces to the specification of a two-dimensional device. Here again the simplest geometries, which are planar or at least rectangular surfaces, will give the most efficient numerical codes. The device engineer has to decide whether this reduced description of the real device is still suitable for his purposes.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2011-12-30
    • Mått:170 x 244 x 16 mm
    • Vikt:502 g
    • Format:Häftad
    • Språk:Engelska
    • Serie:Computational Microelectronics
    • Antal sidor:271
    • Förlag:Springer Verlag GmbH
    • ISBN:9783709190975

    Utforska kategorier

    • Elektronik och kommunikationer inom Naturvetenskap och teknik
    • Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • 1 Boltzmann’s Equation.- 1.1 Introduction.- 1.2 Many-Body System in Equilibrium.- 1.3 Non-Equilibrium Green’s Functions.- References.- 2 Hydrodynamic Model.- 2.1 Introduction.- 2.2 Linear Response and Relaxation-Time Approximation.- 2.3 Nonlinear Response and the Moment Method.- 2.4 Summary.- References.- 3 Carrier Transport in an Inversion Channel.- 3.1 Introduction.- 3.2 The Classical Limit ? ? 0.- 3.3 Surface Mobility.- References.- 4 High Energetic Carriers.- 4.1 Introduction.- 4.2 Impact Ionization Scattering Strength.- 4.3 Distribution Function.- 4.4 Impact Ionization Coefficient and Gate Oxide Injection.- References.- 5 Degredation.- 5.1 Introduction.- 5.2 Analyzing a Degraded MOSFET.- 5.3 The Degradation Process.- References.- Appendix 1. Perturbation Theory and Diagram Technique.- Appendix 2. Inversion Channel Particle-Density Distribution in Equilibrium.- Author Index.