• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Elektronik och kommunikationer

    Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis

    AvJohn W. Sheppard,William R. Simpson

    Inbunden, Engelska, 1998

    Del i serien Frontiers in Electronic Testing

    1 626 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    System approaches embody the partitioning of problems into smaller inter-related subsystems that will be solved together. Thus, words like hierarchical, dependence, inference, model, and partitioning are frequent throughout this text. Each of the authors deals with the complexity issue in a similar fashion, but the real value in a collected work such as this is in the subtle differences that may lead to synthesized approaches that allow even more progress. The works included in this volume are an outgrowth of the 2nd International Workshop on System Test and Diagnosis held in Alexandria, Virginia in April 1998. The first such workshop was held in Freiburg, Germany, six years earlier. In the current workshop nearly 50 experts from around the world struggled over issues concerning the subject. In this volume, a group of workshop participants was invited to provide a chapter that expanded their workshop presentations and incorporated their workshop interactions. While we have attempted to present the work as one volume and requested some revision to the work, the content of the individual chapters was not edited significantly.Consequently, the reader should see different approaches to solving the same problems and occasional disagreement between authors as to definitions or the importance of factors.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:1998-09-30
    • Mått:155 x 235 x 19 mm
    • Vikt:547 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Serie:Frontiers in Electronic Testing
    • Antal sidor:232
    • Upplaga:1998
    • Förlag:Kluwer Academic Publishers
    • ISBN:9780792382638

    Utforska kategorier

    • Elektronik och kommunikationer inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • 1. Diagnostic Inaccuracies: Approaches to Mitigate.- 2. Pass/Fail Limits—The Key To Effective Diagnostic Tests.- 3. Fault Hypothesis Computations Using Fuzzy Logic.- 4. Deriving a Diagnostic Inference Model from a Test Strategy.- 5. Inducing Diagnostic Inference Models from Case Data.- 6. Accurate Diagnosis through Conflict Management.- 7. System Level Test Process Characterization and Improvement.- 8. A Standard for Test and Diagnosis.- 9. Advanced Onboard Diagnostic System for Vehicle Management.- 10. Combining Model-Based and Case-Based Expert Systems.- 11. Enhanced Sequential Diagnosis.