Defect and Microstructure Analysis by Diffraction
R. L. Snyder, Hans J. Bunge, Robert Snyder, Jaroslav Fiala, Hans J Bunge
Inbunden, 2000
4 394 kr
1 367 kr
Läs direkt i Bokus Reader – eller ladda ned till din enhet (PDF kräver ofta zoom och scroll på små skärmar).