Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

AvH.A. Storms,R. Shimizu

E-bok
PDF, Engelska, 2013

1 379 kr

Läs direkt i Bokus Reader – eller ladda ned till din enhet (PDF kräver ofta zoom och scroll på små skärmar).

Produktinformation

Utforska kategorier

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av