Häftad, Engelska, 2011
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II
Av A. Benninghoven, C.A. Jr. Evans, R.A. Powell, R. Shimizu, H.A. Storms
1093 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2011-12-13
- Mått: 152 x 229 x 18 mm
- Vikt: 466 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Serie: Springer Series in Chemical Physics
- Antal sidor: 300
- Förlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN: 9783642618734
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.