Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

AvA. Benninghoven,C.A. Jr. Evans

Häftad, Engelska, 2011

Del 9 i serien Springer Series in Chemical Physics

1 062 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

Produktinformation

Utforska kategorier

Innehållsförteckning

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av