Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix
Shirono Kastsuhiro Shirono, Pendrill Leslie Pendrill, Forbes Alistair B Forbes, Filtz Jean-remy Filtz, Baer Markus Baer, Pavese Franco Pavese
859 kr
AvSiebert Bernd R L Siebert,Perruchet Christophe Perruchet
1 031 kr
Läs direkt i Bokus Reader – eller ladda ned till din enhet (PDF kräver ofta zoom och scroll på små skärmar).