Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel
Häftad
746 kr
AvManfred Grasserbauer,Hans Joachim Dudek
1 794 kr
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