Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel
Häftad
752 kr
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
AvManfred Grasserbauer,Hans Joachim Dudek
Inbunden, Tyska, 1986
1 810 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Produktinformation
Utforska kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- -22%
Del 1
- -22%
Del 3
- -22%
Del 4
- -25%
Del 5
- Signerad!
Del 3
- -30%
- Nyhet
- 4 för 3
- -21%