Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

Häftad, Tyska, 1998

Del i serien Teubner Texte zur Informatik

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Beskrivning

Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung uber die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.

Produktinformation

Utgivningsdatum:1998-01-01
Mått:162 x 235 x 18 mm
Vikt:522 g
Format:Häftad
Språk:Tyska
Serie:Teubner Texte zur Informatik
Antal sidor:322
Upplaga:1998
Förlag:Springer Fachmedien Wiesbaden
ISBN:9783815423141

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Teknik: allmänt inom Naturvetenskap och teknik

Innehållsförteckning

1 Einleitung.- 1.1 Testprobleme.- 1.2 Selbsttest als Lösung.- 1.3 Aufbau des Buchs.- 2 Defekte und Fehler.- 2.1 Defekte bei der Halbleiterfertigung.- 2.2 Bestimmung der realistischen Fehler.- 3 Teststrategien.- 3.1 Schaltungsbeschreibung.- 3.2 Fehlermodelle und Testmuster.- 3.3 Verbesserung der Testbarkeit.- 3.4 Durchführung des Tests.- 3.5 Auswahl einer Teststrategie.- 4 Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung.- 4.1 Rückgekoppelte Schieberegister.- 4.2 Zellulare Automaten.- 4.3 Multifunktionale Testregister.- 4.4 Mustererzeugung und Kompaktierung mit arithmetischen Funktionseinheiten.- 5 Synthese selbsttestbarer Schaltungen.- 5.1 Selbsttestbare Strukturen.- 5.2 Synthese leicht testbarer Steuerwerke.- 5.3 High-Level-Synthese für leicht testbare Datenpfade.- 5.4 Optimaler Testregistereinbau.- 5.5 Planung des Testablaufs.- 6 Schluß.- 7 Literatur.- A Grundbegriffe aus der Graphentheorie.- B Grundbegriffe aus der Theorie der Markovketten.- C Benchmark-Schaltungen.