Secondary Ion Mass Spectrometry

Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

740 kr

Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

Beskrivning

This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique.

Produktinformation

Utforska kategorier

Hoppa över listan

Mer från samma serie

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Elle Kennedy - Snedsteget, Pocket
  • -22%
Del 2

Snedsteget

Elle Kennedy

Pocket, 2024

4,4 utav 5 stjärnor. Totalt antal röster:(9)

69 kr89 kr

Elle Kennedy - Spelet, Pocket
  • -22%
Del 1

Spelet

Elle Kennedy

Pocket, 2024

4,3 utav 5 stjärnor. Totalt antal röster:(21)

69 kr89 kr

David Szalay - Kött, Inbunden
  • -23%

Kött

David Szalay

Inbunden, 2026

4,5 utav 5 stjärnor. Totalt antal röster:(16)

199 kr259 kr