• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Elektronik och kommunikationer

    Advances in Imaging and Electron Physics

    AvPeter W. Hawkes

    Inbunden, Engelska, 2003

    Del 127 i serien Advances in Imaging and Electron Physics

    2 697 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    The subjects reviewed in the Advances in Imaging and Electron Physics series cover a broad range of themes including microscopy, electromagnetic fields and image coding. This volume concentrates on microscopy and pattern recognition and also electron physics.

    The text bridges the gap between academic researchers and R&D designers by addressing and solving daily issues, which makes this book essential reading.



    • Emphasizes broad and in depth article collaborations between world-renowned scientists in the field of image and electron physics
    • Presents theory and it's application in a practical sense, providing long awaited solutions and new findings
    • Provides a comprehensive overview of international congress proceedings and associated publications, as source material

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2003-09-04
    • Mått:152 x 229 x undefined mm
    • Vikt:680 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Serie:Advances in Imaging and Electron Physics
    • Antal sidor:407
    • Förlag:Elsevier Science
    • ISBN:9780120147694

    Utforska kategorier

    • Elektronik och kommunikationer inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Peter Hawkes obtained his M.A. and Ph.D (and later, Sc.D.) from the University of Cambridge, where he subsequently held Fellowships of Peterhouse and of Churchill College. From 1959 – 1975, he worked in the electron microscope section of the Cavendish Laboratory in Cambridge, after which he joined the CNRS Laboratory of Electron Optics in Toulouse, of which he was Director in 1987. He was Founder-President of the European Microscopy Society and is a Fellow of the Microscopy and Optical Societies of America. He is a member of the editorial boards of several microscopy journals and serial editor of Advances in Electron Optics.

    Innehållsförteckning

    • Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy; High Order Accurate Methods in Time-Domain Computational Electromagnetics; Pre filtering for Pattern Recognition Using Wavelet Transform and Neural Networks; Electron Optics and Electron Microscopy: Conference Proceedings and Abstracts as source Material.