Häftad, Engelska, 2015
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Av Sarah Fearn
597 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2015-10-16
- Mått: 178 x 254 x 4 mm
- Vikt: 137 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Serie: Iop Concise Physics
- Antal sidor: 68
- Förlag: Morgan & Claypool
- ISBN: 9780750328005
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.