• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Data och IT
    2. Systemvetenskap och AI

    Unsupervised Process Monitoring and Fault Diagnosis with Machine Learning Methods

    AvChris Aldrich,Lidia Auret

    Häftad, Engelska, 2016

    Del i serien Advances in Computer Vision and Pattern Recognition

    1 285 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Fler format och utgåvor

    Inbunden

    1 785 kr

    Beskrivning

    This unique text/reference describes in detail the latest advances in unsupervised process monitoring and fault diagnosis with machine learning methods. Abundant case studies throughout the text demonstrate the efficacy of each method in real-world settings. The broad coverage examines such cutting-edge topics as the use of information theory to enhance unsupervised learning in tree-based methods, the extension of kernel methods to multiple kernel learning for feature extraction from data, and the incremental training of multilayer perceptrons to construct deep architectures for enhanced data projections. Topics and features: discusses machine learning frameworks based on artificial neural networks, statistical learning theory and kernel-based methods, and tree-based methods; examines the application of machine learning to steady state and dynamic operations, with a focus on unsupervised learning; describes the use of spectral methods in process fault diagnosis.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2016-08-23
    • Mått:155 x 235 x 20 mm
    • Vikt:670 g
    • Format:Häftad
    • Språk:Engelska
    • Serie:Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
    • Antal sidor:374
    • Förlag:Springer London Ltd
    • ISBN:9781447171607

    Utforska kategorier

    • Systemvetenskap och AI inom Data och IT

    Recensioner i media

    From the reviews: "The text elaborates a range of classifiers used for supervised and unsupervised machine learning methods, for different types of processes. ... The rich examples of various industrial processes and the illustration of subsequent simulation results qualify the work as a reference textbook for graduate studies in machine learning." (C. K. Raju, Computing Reviews, October, 2013)

    Innehållsförteckning

    • Introduction.- Overview of Process Fault Diagnosis.- Artificial Neural Networks.- Statistical Learning Theory and Kernel-Based Methods.- Tree-Based Methods.- Fault Diagnosis in Steady State Process Systems.- Dynamic Process Monitoring.- Process Monitoring Using Multiscale Methods.