Övrigt, Engelska, 2012
High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Av Ullrich Pietsch, Vaclav Holy
652 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2012-12-22
- Format: Övrigt
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 428
- Förlag: Springer
- ISBN: 9781475740516
Utforska kategorier
- Inga kategorier tillgängliga.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.