• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Ljudböcker
  • Pocketböcker
  • Spel och pussel

5% studentrabatt – använd koden KURSBOK27 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Fysik
    4. Materietillstånd

    Ion Beams in Materials Processing and Analysis

    AvBernd Schmidt,Klaus Wetzig

    Inbunden, Engelska, 2012

    2 149 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Fler format och utgåvor

    Häftad

    2 149 kr

    Beskrivning

    A comprehensive review of ion beam application in modern materials research is provided, including the basics of ion beam physics and technology. The physics of ion-solid interactions for ion implantation, ion beam synthesis, sputtering and nano-patterning is treated in detail. Its applications in materials research, development and analysis, developments of special techniques and interaction mechanisms of ion beams with solid state matter result in the optimization of new material properties, which are discussed thoroughly. Solid-state properties optimization for functional materials such as doped semiconductors and metal layers for nano-electronics, metal alloys, and nano-patterned surfaces is demonstrated. The ion beam is an important tool for both materials processing and analysis. Researchers engaged in solid-state physics and materials research, engineers and technologists in the field of modern functional materials will welcome this text.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2012-12-13
    • Mått:155 x 235 x 28 mm
    • Vikt:805 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:418
    • Upplaga:2013
    • Förlag:Springer Verlag GmbH
    • ISBN:9783211993552

    Utforska kategorier

    • Materietillstånd inom Naturvetenskap och teknik
    • Fysik inom Naturvetenskap och teknik
    • Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Bernd Schmidt received his PhD in Physics at the State University of St. Petersburg (Russia) in 1976. Since 1994 he has been head of the Process Technology Division at the Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, Germany. His research interests include semiconductor technology as well as ion implantation and the synthesis of nanostructures. He is author of the specialist book "Silicon Sensors" (1986) and of more than 150 refereed journal papers. Klaus Wetzig received his PhD (1967) and postdoctoral (1973) degrees in Physics at the TU Dresden, Germany. From 1992 until his retirement in 2006 he was full professor of Materials Analysis at the TU Dresden and research director at the Leibniz Institute for Solid State and Materials Research Dresden (IFW). His research interests include materials analysis, nanostructures and particle-solid interactions. He is author of several specialist books and of more than 300 refereed journal papers.

    Innehållsförteckning

    • Preface.- 1. Introduction.- 2. Ion- Solid Interactions.- 2.1 Fundamental Principles.- 2.2 Binary Elastic Collisions.- 2.3 Ion Stopping.- 2.4 Ion Channeling.- 2.5 Ion Induced Target Modifications.- 3. Ion Beam Technology.- 3.1 Principles of Ion Accelerators.- 3.2 Ion Sources.- 3.3 Ion Acceleration.- 3.4 Ion Beam Handling.- 3.5 Ion Implantation Systems.- 3.6 Electrostatic Ion Accelerator Systems.- 3.7 Focused Ion Beam Systems.- 4. Materials Processing.- 4.1 Ion Irradiation Effects in Crystalline Materials.- 4.2 Ion Implantation into Semiconductors.- 4.3 Ion Beam Synthesis of New Phases in Solids.- 4.4 Ion Beam Mixing of Interfaces.- 4.5 Ion Beam Slicing of Thin Layers (Smart-Cut for SOI and Solar Cells).- 4.6 Ion Beam Erosion, Sputtering and Surface Patterning (Ripples and Dots).- 4.7 Ion Beam Shaping of Nanomaterials.- 4.8 Ion Beam Processing of other Materials.- 5. Ion Beam Preparation of Materials.- 5.1 Removal of Target Atoms by Sputtering.- 5.2 Effects on Sputtering Yield.- 5.3 Preparation Steps by Ion Beam Irradiation.- 5.4 Focus Ion Beam (FIB) Preparation.- 6. Ion Beam Analysis by Ion Beams.- 6.1 Introduction.- 6.2 Ion Beam Analytical Techniques – a Survey.- 6.3 Ion Beam Scattering Techniques.- 6.4 Ion Beam Induced Photon Emission.- 6.5 Nuclear Reaction Analysis (NRA).- 6.6 Ion Beam Induced Electron and Light Emission.- 6.7 Secondary Ion Emission.- 6.8 Ion Beam Imaging Techniques.- 7. Special Ion Beam Applications in Materials Analysis Problems.- 7.1 Functional ThinFilms and Layers.- 7.2 Ion Beam Analysis in Art and Archeometry.- 7.3 Special Applications in Life Sciences.- Index.