Del 3
Leakage Current and Defect Characterization of Short Channel Mosfets
1 202 kr
Tillfälligt slut
Produktinformation
Utforska kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Del 4
Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo_2thin Films
Ekaterina Yurchuk
Häftad, 2015
993 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 3
Del 4
Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo_2thin Films
Ekaterina Yurchuk
Häftad, 2015
993 kr
Del 5
Development of HfO2-Based Ferroelectric Memories for Future CMOS Technology Nodes
Stefan Ferdinand Müller
Häftad, 2016
567 kr
- -43%
- -15%
Historiens återkomst : Europa och världsordningens sammanbrott
Martin Kragh
Inbunden, 2025
219 kr259 kr
- Signerad!
- -19%
- -23%
- 4 för 3