Del 3
Leakage Current and Defect Characterization of Short Channel Mosfets
1 184 kr
Tillfälligt slut
Produktinformation
Utforska kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Del 4
Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo_2thin Films
Ekaterina Yurchuk
Häftad, 2015
978 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- 10% rabatt på allt
Del 3
Del 4
Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo_2thin Films
Ekaterina Yurchuk
Häftad, 2015
978 kr
- 10% rabatt på allt
Del 11
- 10% rabatt på allt
- 10% rabatt på allt
Del 5
Development of HfO2-Based Ferroelectric Memories for Future CMOS Technology Nodes
Stefan Ferdinand Müller
Häftad, 2016
568 kr
- Signerad!
Del 3
- 10% rabatt på allt
Del 4
- 10% rabatt på allt
Del 3