Häftad, Engelska, 2009
Journey to Data Quality
Av Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk
250 kr
Tillfälligt slut
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2009-09-01
- Mått: 152 x 229 x 12 mm
- Vikt: 340 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Förlag: MIT Press Ltd
- ISBN: 9780262513357
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.