• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Kemi
    4. Analytisk kemi

    X-Ray Spectrometry

    Recent Technological Advances

    AvKouichi Tsuji,Jasna Injuk

    Inbunden, Engelska, 2004

    5 639 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 11-20 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances covers the latest developments and areas of research in the methodological and instrumental aspects of x-ray spectrometry.* Includes the most advanced and high-tech aspects of the chemical analysis techniques based on x-rays* Introduces new types of X-ray optics and X-ray detectors, covering history, principles, characteristics and future trends* Written by internationally recognized scientists, all of whom are eminent specialists in each of the sub-fields* Sections include: X-Ray Sources, X-Ray Optics, X-Ray Detectors, Special Configurations, New Computerization Methods, New Applications This valuable book will assist all analytical chemists and other users of x-ray spectrometry to fully exploit the capabilities of this set of powerful analytical tools and to further expand applications in such fields as material and environmental sciences, medicine, toxicology, forensics, archaeometry and many others.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2004-03-12
    • Mått:152 x 229 x 39 mm
    • Vikt:1 474 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:616
    • Förlag:John Wiley & Sons Inc
    • ISBN:9780471486404

    Utforska kategorier

    • Analytisk kemi inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Kouichi Tsuji is the editor of X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, published by Wiley.Jasna Injuk is the editor of X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, published by Wiley.René Van Grieken is the editor of X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, published by Wiley.

    Innehållsförteckning

    • Contributors. Preface. 1 Introduction. 1.1 Considering the Role of X-ray Spectrometry in Chemical Analysis and Outlining the Volume. 2 X-Ray Sources. 2.1 Micro X-ray Sources. 2.2 New Synchrotron Radiation Sources. 2.3 Laser-driven X-ray Sources. 3 X-Ray Optics. 3.1 Multilayers for Soft and Hard X-rays. 3.2 Single Capillaries X-ray Optics. 3.3 Polycapillary X-ray Optics. 3.4 Parabolic Compound Refractive X-ray Lenses. 4 X-Ray Detectors. 4.1 Semiconductor Detectors for (Imaging) X-ray Spectroscopy. 4.2 Gas Proportional Scintillation Counters for X-ray Spectrometry. 4.3 Superconducting Tunnel Junctions. 4.4 Cryogenic Microcalorimeters. 4.5 Position Sensitive Semiconductor Strip Detectors. 5 Special Configurations. 5.1 Grazing-incidence X-ray Spectrometry. 5.2 Grazing-exit X-ray Spectrometry. 5.3 Portable Equipment for X-ray Fluorescence Analysis. 5.4 Synchrotron Radiation for Microscopic X-ray Fluorescence Analysis. 5.5 High-energy X-ray Fluorescence. 5.6 Low-energy Electron Probe Microanalysis and Scanning Electron Microscopy. 5.7 Energy Dispersive X-ray Microanalysis in Scanning and Conventional Transmission Electron Microscopy. 5.8 X-Ray Absorption Techniques. 6 New Computerisation Methods. 6.1 Monte Carlo Simulation for X-ray Fluorescence Spectroscopy. 6.2 Spectrum Evaluation. 7 New Applications. 7.1 X-Ray Fluorescence Analysis in Medical Sciences. 7.2 Total Reflection X-ray Fluorescence for Semiconductors and Thin Films. 7.3 X-Ray Spectrometry in Archaeometry. 7.4 X-Ray Spectrometry in Forensic Research. 7.5 Speciation and Surface Analysis of Single Particles Using Electron-excited X-ray Emission Spectrometry. Index.