• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Elektronik och kommunikationer

    High k Gate Dielectrics

    AvMichel Houssa

    Inbunden, Engelska, 2003

    2 869 kr

    Tillfälligt slut

    Beskrivning

    The drive toward smaller and smaller electronic componentry has huge implications for the materials currently being used. As quantum mechanical effects begin to dominate, conventional materials will be unable to function at scales much smaller than those in current use. For this reason, new materials with higher electrical permittivity will be required, making this is a subject of intensive research activity within the microelectronics community.High k Gate Dielectrics reviews the state-of-the-art in high permittivity gate dielectric research. Consisting of contributions from leading researchers from Europe and the USA, the book first describes the various deposition techniques used for construction of layers at these dimensions. It then considers characterization techniques of the physical, chemical, structural, and electronic properties of these materials. The book also reviews the theoretical work done in the field and concludes with technological applications.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2003-12-01
    • Mått:156 x 234 x undefined mm
    • Vikt:1 179 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:614
    • Förlag:Taylor & Francis Ltd
    • ISBN:9780750309066

    Utforska kategorier

    • Elektronik och kommunikationer inom Naturvetenskap och teknik
    • Elektricitet och magnetism inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Michel Houssa Laboratoire Materiaux et Microelectronique de Provence, Universite de Provence, France Silicon Processing and Device Technology Division, IMEC, Belgium

    Innehållsförteckning

    • IntroductionThe need for high-k gate dielectrics and materials requirementDeposition techniquesALCVD, MOCVD, PLD, MBECharacterizationPhysico-chemical characterizationX-ray and electron spectroscopiesOxygen diffusion and thermal stabilityDefect characterization by ESRBand alignment determined by photo-injectionElectrical characteristicsTheory of defects in high-k materialsBonding constraints and defect formation at Si/high-k interfacesBand alignment calculationsElectron mobility at the Si/high-k interfaceModel for defect generation during electrical stressTechnological aspectsDevice integration issuesDevice concepts for sub-100 nm CMOS technologiesTransistor characteristicsNonvolatile memories based on high-k ferroelectric layers