Inbunden, Engelska, 2022
Neutron and X-ray Reflectometry
Emerging phenomena at heterostructure interfaces
Av Saibal Basu, Surendra Singh
Del i serien IOP ebooks
1970 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
This book introduces the techniques of neutronand x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using thetechniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2022-12-27
- Mått: 178 x 254 x 16 mm
- Vikt: 535 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Serie: IOP ebooks
- Antal sidor: 182
- Förlag: Institute of Physics Publishing
- ISBN: 9780750346931
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.