• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Data och IT
    2. Hårdvara

    Semiconductor Memories

    Technology, Testing, and Reliability

    AvAshok K. Sharma

    Inbunden, Engelska, 2002

    2 571 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specific memories and architectures.* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2002-09-24
    • Mått:183 x 257 x 33 mm
    • Vikt:1 043 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:480
    • Förlag:John Wiley & Sons Inc
    • ISBN:9780780310001

    Utforska kategorier

    • Hårdvara inom Data och IT

    Mer om författaren

    ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.

    Recensioner i media

    "...a valuable reference..." (Microelectronics Reliability, Vol. 43, 2003)

    Innehållsförteckning

    • Preface. Chapter 1: Introduction.Chapter 2: Random Access Memory Technologies.2.1 Introduction.2.2 Static Random Access Memories (SRAMs).2.3 Dynamic Random Access Memories (DRAMs).Chapter 3: Nonvolatile Memories.3.1 Introduction.3.2 Masked Read-Only Memories (ROMs).3.3 Programmable Read-Only Memories (PROMs).3.4 Erasable (UV)-Programmable Read-Only Memories (EPROMs).3.5 Electrically Erasable PROMs (EEPROMs).3.6 Flash Memories (EPROMs or EEPROMs).Chapter 4: Memory Fault Modeling and Testing.4.1 Introduction . . . .4.2 RAM Fault Modeling.4.3 RAM Electrical Testing.4.4 RAM Pseudorandom Testing.4.5 Megabit DRAM Testing.4.6 Nonvolatile Memory Modeling and Testing.4.7 IDDQ Fault Modeling and Testing.4.8 Application Specific Memory Testing.Chapter 5: Memory Design for Testability and Fault Tolerance.5.1 General Design for Testability Techniques.5.2 RAM Built-in Self-Test (BIST).5.3 Embedded Memory DFT and BIST Techniques.5.4 Advanced BIST and Built-in Self-Repair Architectures.5.5 DFT and BIST for ROMs.5.6 Memory Error-Detection and Correction Techniques.5.7 Memory Fault-Tolerance Designs.Chapter 6: Semiconductor Memory Reliability.6.1 General Reliability Issues.6.2 RAM Failure Modes and Mechanisms.6.3 Nonvolatile Memory Reliability.6.4 Reliability Modeling and Failure Rate Prediction.6.5 Design for Reliability.6.6 Reliability Test Structures.6.7 Reliability Screening and Qualification.Chapter 7: Semiconductor Memory Radiation Effects.7.1 Introduction.7.2 Radiation Effects.7.3 Radiation-Hardening Techniques.7.4 Radiation Hardness Assurance and Testing.Chapter 8: Advanced Memory Technologies.8.1 Introduction.8.2 Ferroelectric Random Access Memories (FRAMs).8.3 Gallium Arsenide (GaAs) FRAMs.8.4 Analog Memories.8.5 Magnetoresistive Random Access Memories (MRAMs).8.6 Experimental Memory Devices.Chapter 9: High-Density Memory Packaging Technologies.9.1 Introduction.9.2 Memory Hybrids and MCMs (2-D).9.3 Memory Stacks and MCMs (3-D).9.4 Memory MCM Testing and Reliability Issues.9.5 Memory Cards.9.6 High-Density Memory Packaging Future Directions.Index.