Häftad, Engelska, 2014
Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265
Av C. V. Thompson, J. R. Lloyd
471 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2014-06-05
- Mått: 152 x 229 x 18 mm
- Vikt: 460 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Serie: MRS Proceedings
- Antal sidor: 344
- Förlag: Cambridge University Press
- ISBN: 9781107409682
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.