• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Ljudböcker
  • Pocketböcker
  • Spel och pussel

5% studentrabatt – använd koden KURSBOK27 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Elektronik och kommunikationer

    Analysis and Design of MOSFETs

    Modeling, Simulation, and Parameter Extraction

    AvJuin Jei Liou,Adelmo Ortiz-Conde

    Häftad, Engelska, 2012

    1 614 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Fler format och utgåvor

    Inbunden

    1 614 kr

    Beskrivning

    Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction is the first book devoted entirely to a broad spectrum of analysis and design issues related to the semiconductor device called metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET). These issues include MOSFET device physics, modeling, numerical simulation, and parameter extraction. The discussion of the application of device simulation to the extraction of MOSFET parameters, such as the threshold voltage, effective channel lengths, and series resistances, is of particular interest to all readers and provides a valuable learning and reference tool for students, researchers and engineers. Analysis and Design of MOSFETs: Modeling, Simulation, and Parameter Extraction, extensively referenced, and containing more than 180 illustrations, is an innovative and integral new book on MOSFETs design technology.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2012-09-27
    • Mått:155 x 235 x 20 mm
    • Vikt:557 g
    • Format:Häftad
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:349
    • Förlag:Springer-Verlag New York Inc.
    • ISBN:9781461374732

    Utforska kategorier

    • Elektronik och kommunikationer inom Naturvetenskap och teknik
    • Energiteknik inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • 1. MOSFET physics and modeling.- 1.1 MOSFET evolution and its integrated circuits.- 1.2 MOS fundamentals.- 1.3 Concept and operation of MOSFETs.- 1.4 Modeling of conventional MOSFETs.- 1.5 Short-channel effects.- 1.6 Narrow-channel effects.- 1.7 Hot-carrier effects.- 1.8 Quantum mechanical effects in deep-submicron MOS devices.- 1.9 Modeling the lightly-doped-drain (LDD) MOSFET.- 1.10 Modeling the silicon-on-insulator (SOI) MOSFET.- References.- 2. MOSFET simulation using device simulators.- 2.1 Introduction to device simulators.- 2.2 Description of MEDICI device simulator.- 2.3 Numerical algorithms.- 2.4 Grid in MEDICI.- 2.5 Example of MOSFET simulation.- 2.6 Three-dimensional device simulation.- References.- 3. Extraction of the threshold voltage of MOSFETs.- 3.1 Existing methods for extracting the threshold voltage.- 3.2 Improved threshold voltage extraction method.- 3.3 Threshold voltage shift reversal in short-channel MOSFETs.- 3.4 Threshold voltage shift due to quantum mechanical effects.- References.- 4. Methods for extracting the effective channel length of MOSFETs.- 4.1 Introduction.- 4.2 Current-voltage methods.- 4.3 Capacitance-voltage method.- 4.4 Simulation-based method.- 4.5 Comparison of various extraction methods.- References.- 5. Extraction of the source and drain series resistances of MOSFETs.- 5.1 Introduction.- 5.2 Extraction of total drain and source series resistance.- 5.3 Difference in drain and source series resistances.- 5.4 Physical mechanisms contributing to the drain and source asymmetry.- References.- 6. Parameter extraction of lightly-doped drain (LDD) MOSFETs.- 6.1 Validity of the I-V extraction method for LDD MOSFETs.- 6.2 Bias-dependent effective channel length and series resistance.- 6.3 Constant effective channel length determination method.- 6.4 Capacitance-based metallurgical channel length determination method.- 6.5 Drain and source resistances of LDD MOSFETs.- 6.6 Gate-oxide thickness dependence of LDD MOSFET parameters.- References.- Appendices.- Appendix A Physical constants and unit conversions.- Appendix B Properties of germanium, silicon, and gallium arsenide (at 300 K).- Appendix C Properties of Si02 and Si3N4 (at 300 K).- Appendix D Derivation of the integral function and its applications to parameter extraction.- About the authors.