• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% studentrabatt med kod TERM26

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Kemi
    4. Analytisk kemi

    Material Characterization Using Ion Beams

    AvJ. Thomas

    Häftad, Engelska, 2012

    Del i serien NATO Science Series B:

    549 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    The extensive use of low-energy accelerators in non-nuclear physics has now reached the stage where these activities are recognized as a natural field of investigation. Many other areas in physics and chemistry have undergone similarly spectacular development: beam foil spectroscopy in atomic physics, studies in atomic collisions, materials implantation, defects creation, nuclear microanalysis, and so on. Now, this most recent activity by itself and in its evident connec­ tion with the others has brought a new impetus to both the funda­ mental and the applied aspects of materials science. A summer school on "Material Characterization Using Ion Beams" has resulted from these developments and the realization that the use of ion beams is not restricted to accelerators but covers a wide energy range in the developing technology. The idea of the ion beam as a common denominator of many act1v1t1es dealing with surface and near-surface characterization was enthu­ siastically received by many scientists and a school on this subject received the positive endorsement of NATO. The Advanced Study Institute on Materials Science has assumed for us the status of an "institution" leading to better contact among the many laboratories engaged in this field. The fourth Institute in this series was held in Aleria, Corsica, between August 22 and September 12, 1976.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2012-11-25
    • Mått:170 x 244 x 29 mm
    • Vikt:914 g
    • Format:Häftad
    • Språk:Engelska
    • Serie:NATO Science Series B:
    • Antal sidor:517
    • Förlag:Springer-Verlag New York Inc.
    • ISBN:9781468408584

    Utforska kategorier

    • Analytisk kemi inom Naturvetenskap och teknik
    • Materietillstånd inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • I Ion Beams: Production and Interaction with Matter.- Energy Loss of Charged Particles.- Some General Considerations of Ion Beam Production and Manipulation.- II Surface Studies: keV Range Ions.- Applications of Low-Energy Ion Scattering.- Ion Beam Induced Light Emission: Mechanisms and Analytical Applications.- Complementary Analysis Techniques: AES, ESCA.- III In-Depth Analysis.- Fundamental Aspects of Ion Microanalysis.- Ion Induced X-rays: General Description.- The Evolving Use of Electrons, Protons and Heavy Ions in the Characterisation of Materials.- Backscattering of Ions With Intermediate Energies.- Backscattering Analysis With MeV 4He Ions.- Microanalysis by Direct Observation of Nuclear Reactions.- IV Solid State Studies Using Channeling Effects.- Channeling: General Description.- Flux Peaking — Lattice Location.- Analysis of Defects by Channeling.- Application of MeV Ion Channeling to Surface Studies.- General Conclusions.- General Conclusions.- Participants.