Häftad, Engelska, 2018
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
1860 kr
Tillfälligt slut
Beskrivning
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2018-07-30
- Mått: 152 x 229 x undefined mm
- Vikt: 1 588 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 660
- Förlag: A S M International
- ISBN: 9781627081504
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.