Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie

Häftad, Tyska, 1997

Del i serien Angewandte Physik

672 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

Produktinformation

Utgivningsdatum:1997-01-01
Mått:133 x 203 x 18 mm
Vikt:366 g
Format:Häftad
Språk:Tyska
Serie:Angewandte Physik
Antal sidor:320
Upplaga:1997
Förlag:Springer Fachmedien Wiesbaden
ISBN:9783519032212

Utforska kategorier

Teknik: allmänt inom Naturvetenskap och teknik

Innehållsförteckning

1 Grundlagen.- 2 Dynamische Theorie der Beugungskontraste.- 3 Hochauflösende Elektronenmikroskopie.- 4 Analytische Elektronenmikroskopie.- A Anhang.- A1 Fourier-Optik.- A1.1 Beugung am Spalt.- A1.2 Beugung an einem Gitter aus N Spalten.- A1.3 Fourier-Analyse.- A1.4 Fourier-Transformation.- A1.5 Die Diracsche Deltafunktion.- A1.6 Beugung und Abbildung.- A2 Vereinfachende Abschätzung des Punktauflösungsvermögens eines Elektronenmikroskops.- A3 Formale Behandlung der inkohärenten Abbildung im ringförmigen Dunkelfed (HAADF) des Raster-Transmissions-Elektronenmikroskops.- A4 Konstanz der Helligkeit ? im Strahlengang.- Abbildungen.

Mer från samma serie

Mikromechanik

Stephanus Büttgenbach

Häftad, 1990

519 kr

Photonik

Springer Fachmedien Wiesbaden

Häftad, 1994

519 kr

Nanophysik und Nanotechnologie

Horst-Günter Rubahn

Häftad, 2004

314 kr

Mikromechanik

Springer Fachmedien Wiesbaden

Häftad, 1997

467 kr

Du kanske också är intresserad av

10% rabatt på allt

Adventskalender Ravensburger pussel 2026

Ravensburger

319 kr

Mikromechanik

Stephanus Büttgenbach

Häftad, 1990

519 kr

Mikromechanik

Springer Fachmedien Wiesbaden

Häftad, 1997

467 kr

Photonik

Springer Fachmedien Wiesbaden

Häftad, 1994

519 kr

Nanophysik und Nanotechnologie

Horst-Günter Rubahn

Häftad, 2004

314 kr

Ruth Kvarnström-Jones - Systrarna på Sophiahemmet, Inbunden

10% rabatt på allt

Del 3

Systrarna på Sophiahemmet

Ruth Kvarnström-Jones

Inbunden, 2026

249 kr

10% rabatt på allt

Del 11

Medusa

Lars Kepler

Inbunden, 2026

269 kr

Ruth Kvarnström-Jones - SIGNERAD - Systrarna på Sophiahemmet, Inbunden

Signerad!

Del 3

SIGNERAD - Systrarna på Sophiahemmet

Ruth Kvarnström-Jones

Inbunden, 2026

249 kr

-30%

Inte den du tror

Lisa Jewell

Pocket, 2026

(1)

69 kr99 kr

10% rabatt på allt

Jag såg hur vi var stjärnor

Laleh Pourkarim

Inbunden, 2026

269 kr

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie

Häftad, Tyska, 1997

Del i serien Angewandte Physik

672 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

Produktinformation

Utgivningsdatum:1997-01-01
Mått:133 x 203 x 18 mm
Vikt:366 g
Format:Häftad
Språk:Tyska
Serie:Angewandte Physik
Antal sidor:320
Upplaga:1997
Förlag:Springer Fachmedien Wiesbaden
ISBN:9783519032212

Utforska kategorier

Teknik: allmänt inom Naturvetenskap och teknik

Innehållsförteckning

1 Grundlagen.- 2 Dynamische Theorie der Beugungskontraste.- 3 Hochauflösende Elektronenmikroskopie.- 4 Analytische Elektronenmikroskopie.- A Anhang.- A1 Fourier-Optik.- A1.1 Beugung am Spalt.- A1.2 Beugung an einem Gitter aus N Spalten.- A1.3 Fourier-Analyse.- A1.4 Fourier-Transformation.- A1.5 Die Diracsche Deltafunktion.- A1.6 Beugung und Abbildung.- A2 Vereinfachende Abschätzung des Punktauflösungsvermögens eines Elektronenmikroskops.- A3 Formale Behandlung der inkohärenten Abbildung im ringförmigen Dunkelfed (HAADF) des Raster-Transmissions-Elektronenmikroskops.- A4 Konstanz der Helligkeit ? im Strahlengang.- Abbildungen.