• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Maskinteknik och material

    Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

    Atomic-Scale Structure Determination

    AvYoshio Waseda

    Häftad, Engelska, 2013

    Del i serien Springer Tracts in Modern Physics

    2 165 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Fler format och utgåvor

    Inbunden

    2 165 kr

    E-bok

    2 833 kr

    Beskrivning

    The production of multi layered thin films with sufficient reliability is a key technology for device fabrication in micro electronics. In the Co/Cu type multi layers, for example, magnetoresistance has been found as large as 80 % at 4. 2 K and 50 % at room temperature. In addition to such gigantic mag netoresistance, these multi layers indicate anti ferromagnetic and ferromag netic oscillation behavior with an increase in the thickness of the layers of the non magnetic component. These interesting properties of the new synthetic flmctional materials are attributed to their periodic and interracial structures at a microscopic level, although the origin of such peculiar features is not fully understood. Information on the surface structure or the number density of atoms in the near surface region may provide better insight. Amorphous alloys, frequently referred to as metallic glasses, are produced by rapid quenching from the melt. The second generation amorphous alloys, called "bulk amorphous alloys", have been discovered in some Pd based and Zr based alloy systems, with a super cooled liquid region at more than 120 K. In these alloy systems, one can obtain a sample thickness of several centime ters. Growing scientific and technological curiosity about the new amorphous alloys has focused on the fundamental factors, such as the atomic scale struc ture, which are responsible for the thermal stability with certain chemical compositions.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2013-10-03
    • Mått:155 x 235 x undefined mm
    • Vikt:359 g
    • Format:Häftad
    • Språk:Engelska
    • Serie:Springer Tracts in Modern Physics
    • Antal sidor:214
    • Förlag:Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
    • ISBN:9783662146378

    Utforska kategorier

    • Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • Structural Characterization of Crystalline and Non-crystalline Materials — A Brief Background of Current Requirements.- Experimental Determination of Partial and Environmental Structure Functions in Non-crystalline Systems — Fundamental Aspects.- Nature of Anomalous X-ray Scattering and Its Application to the Structural Analysis of Crystalline and Non-crystalline Systems.- Experimental Determination of the Anomalous Dispersion Factors of X-rays — Theoretical and Experimental Issues.- In-House Equipment and Synchrotron Radiation Facilities for Anomalous X-ray Scattering.- Selected Examples of Structural Determination for Crystalline Materials Using the AXS Method.- Selected Examples of Structural Determination for Non-crystalline Materials Using the AXS Method.- Anomalous Small-Angle X-ray Scattering.- Anomalous Grazing-Incidence X-ray Reflection.- Merits of Anomalous X-ray Scattering and Its Future Prospects.