H.J. Dudek – författare

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1. 

   Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

   Av M. Grasserbauer, H.J. Dudek m. fl.

   Häftad, 2011

   770 kr

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   In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflächenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Maße für die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und häufig mit­ einander kombiniert werden, nämlich SIMS, AES und XPS in einer …