• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Naturvetenskap:allmänt

    Atom Probe Field Ion Microscopy

    AvM. K. Miller,A. Cerezo

    Inbunden, Engelska, 1996

    Del 52 i serien Monographs on the Physics and Chemistry of Materials

    3 360 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:1996-09-19
    • Mått:164 x 242 x 33 mm
    • Vikt:1 042 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Serie:Monographs on the Physics and Chemistry of Materials
    • Antal sidor:520
    • Förlag:OUP OXFORD
    • ISBN:9780198513872

    Utforska kategorier

    • Naturvetenskap:allmänt inom Naturvetenskap och teknik
    • Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Hetherington - deceased

    Recensioner i media

    The book is an excellent resource for anyone entering the field ... strongly recommended at all levels among those who feel curious about this non-obvious way of doing high resolution ion microscopy and analysis at the atomic level.

    Innehållsförteckning

    • 1. Historical background and general introduction ; 2. Physical principles of field ion microscopy ; 3. FIM image interpretation and application ; 4. Physical principles of atom probe interpretation ; 5. Statistical analysis of atom probe data ; 6. Metallurgical applications ; 7. Atom probe studies of non-metallic materials, thin films and surface phenomena ; Epilogue: future directions