Inbunden, Engelska, 1986
Advances in X-Ray Analysis
Av Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki
2200 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 1986-06-30
- Mått: 156 x 234 x 38 mm
- Vikt: 1 037 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 600
- Förlag: Springer Science+Business Media
- ISBN: 9780306422874
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.