Inbunden, Engelska, 1986
Advances in X-Ray Analysis
Volume 29
Av Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki
2188 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 1986-06-30
- Mått: 156 x 234 x 38 mm
- Vikt: 1 037 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 600
- Upplaga: 1986
- Förlag: Springer Science+Business Media
- ISBN: 9780306422874
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.