Häftad, Engelska, 2012
Advances in X-Ray Analysis
Volume 35B
Av C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith
552 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2012-11-21
- Mått: 170 x 244 x 35 mm
- Vikt: 1 100 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 641
- Förlag: Springer-Verlag New York Inc.
- ISBN: 9781461365327
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.