Häftad, Engelska, 2012
Advances in X-Ray Analysis
Av C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith
555 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2012-11-21
- Mått: 170 x 244 x 35 mm
- Vikt: 1 100 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 641
- Förlag: Springer-Verlag New York Inc.
- ISBN: 9781461365327
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.