Inbunden, Engelska, 1994
Advances in x-Ray Analysis
Av John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan
884 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 1994-09-30
- Mått: 264 x 184 x 47 mm
- Vikt: 1 592 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 778
- Förlag: Kluwer Academic Publishers Group
- ISBN: 9780306449017
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.