• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Teknik och industri
    3. Teknik: allmänt

    Emerging Nanotechnologies

    Test, Defect Tolerance, and Reliability

    AvMohammad Tehranipoor

    Inbunden, Engelska, 2007

    Del 37 i serien Frontiers in Electronic Testing

    1 623 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2007-12-10
    • Mått:155 x 235 x 28 mm
    • Vikt:799 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Serie:Frontiers in Electronic Testing
    • Antal sidor:408
    • Upplaga:2008
    • Förlag:Springer-Verlag New York Inc.
    • ISBN:9780387747460

    Utforska kategorier

    • Teknik: allmänt inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • Test and Defect Tolerance for Crossbar-Based Architectures.- Defect-Tolerant Logic with Nanoscale Crossbar Circuits.- Built-in Self-Test and Defect Tolerance in Molecular Electronics-Based Nanofabrics.- Test and Defect Tolerance for Reconfigurable Nanoscale Devices.- A Built-In Self-Test and Diagnosis Strategy for Chemically-Assembled Electronic Nanotechnology.- Defect Tolerance in Crossbar Array Nano-Architectures.- Test and Defect Tolerance for QCA Circuits.- Reversible and Testable Circuits for Molecular QCA Design.- Cellular Array-Based Delay-Insensitive Asynchronous Circuits Design and Test for Nanocomputing Systems.- QCA Circuits for Robust Coplanar Crossing.- Reliability and Defect Tolerance in Metallic Quantum-Dot Cellular Automata.- Testing Microfluidic Biochips.- Test Planning and Test Resource Optimization for Droplet-Based Microfluidic Systems.- Testing and Diagnosis of Realistic Defects in Digital Microfluidic Biochips.- Reliability for Nanotechnology Devices.- Designing Nanoscale Logic Circuits Based on Principles of Markov Random Fields.- Towards Nanoelectronics Processor Architectures.- Design and Analysis of Fault-Tolerant Molecular Computing Systems.