• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Kemi
    4. Analytisk kemi

    Handbook of Monochromatic XPS Spectra

    Polymers and Polymers Damaged by X-Rays

    AvB. Vincent Crist

    Inbunden, Engelska, 2000

    Del i serien Materials Science

    15 381 kr

    Tillfälligt slut

    Fler format och utgåvor

    Inbunden

    15 722 kr

    Inbunden

    Tillf. slut

    Beskrivning

    Contains an invaluable collection of research grade XPS spectra, including comprehensive information about the XPS instruments used, the materials, and the advanced methods of collecting the spectra. Energy resolution settings, instrument characteristics, energy referencing methods, traceability, energy scale calibration details and transmission function are all reported.* Presents XPS spectra from pure polymers and X-ray induced damage studies of polymers* Vertical and horizontal differential charging effects have been eliminated by using the flood-gun-mesh-screen system* All spectra were obtained under everyday conditions, allowing users to compare directly with in-house spectra* Self-consistent methodology that maximises reliablility and minimizes errors* Overlays of high resolution spectra before and after long-term exposure to monochromatic X-rays* Valence band spectra of pure polymers which serve as material fingerprints

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2000-08-31
    • Mått:192 x 266 x 34 mm
    • Vikt:1 077 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Serie:Materials Science
    • Antal sidor:464
    • Upplaga:1
    • Förlag:John Wiley & Sons Inc
    • ISBN:9780471492672

    Utforska kategorier

    • Analytisk kemi inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    B. Vincent Crist XPS International, Ames, Iowa

    Innehållsförteckning

    • ORGANIZATION AND DETAILS OF SPECTRAL SETS. Alphabetical Organization of Spectra. Contents of Each Set of Spectra. Philosophy of Data Collection Methods. Peak-Fitting (Curve-Fitting) of High Energy Resolution Spectra. Charge Compensation of Insulating Materials. Abbreviations Used. INSTRUMENT AND ANALYSIS DETAILS USED TO MAKE XPS DATA. Instrument Details. Experimental Details. Data Processing Details. Sample Details. Energy Resolution Details. Energy Scale Reference Energies and Calibration Details. Electron Counting and Instrument Response Function Details (for the X-probe system only). Effects of Poorly Focusing the Distance between the Sample and the Electron Lens. Quantitation Details and Choice of 'Sensitivity Exponents'. Crude Tests of the Reliability of Relative Sensitivity Factors. Traceability Details. Reference Papers Describing the Capabilities of X-Probe, M-Probe, and S-Probe XPS Systems.