Häftad, Engelska, 2015
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Av David C Cox
852 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2015-10-01
- Mått: 178 x 254 x 4 mm
- Vikt: 163 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 84
- Förlag: Morgan & Claypool
- ISBN: 9780750327954
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.