Häftad, Engelska, 2015
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Av David C. Cox
1404 kr
Skickas inom 3-6 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2015-10-01
- Mått: 178 x 254 x 5 mm
- Vikt: 333 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 104
- Förlag: Morgan & Claypool Publishers
- ISBN: 9781681740201
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.