Electromigration in Metals
Paul S. Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev
Inbunden, 2022
1 071 kr
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
361 kr
Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
Utforska kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 9
Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee
Häftad, 2012
1 611 kr
Del 9
Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee
Inbunden, 2002
1 611 kr
Advanced Interconnects for ULSI Technology
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech
Inbunden, 2012
2 104 kr
- Nyhet
Del 2
- -19%
Del 7
- -22%
Del 3
- -30%
- -19%
- 4 för 3