Del 31
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
AvGloria Huertas Sánchez,Diego Vázquez García de la Vega
Inbunden, Engelska, 2006
Del i serien Frontiers in Electronic Testing
1 619 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Fler format och utgåvor
Beskrivning
This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test -- OBT in short. The results presented here assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.
Produktinformation
Utforska kategorier
Mer om författaren
Innehållsförteckning
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha
Inbunden, 2005
1 082 kr
Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis
Inbunden, 2006
1 082 kr
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Inbunden, 2007
2 156 kr
Del 37
Del 17
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
M. Bushnell, Vishwani Agrawal
Inbunden, 2000
1 404 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Gloria Huertas Sánchez, Diego Vázquez García de la Vega, Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz
Häftad, 2010
1 605 kr
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
Jose Luis Huertas Díaz
Inbunden, 2004
1 619 kr
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
Jose Luis Huertas Díaz
Häftad, 2010
1 619 kr
- -19%
- -22%
Del 3
- -30%
- 4 för 3
- Nyhet
Del 2
- 4 för 3
- -30%