Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
AvGloria Huertas Sánchez,Diego Vázquez García de la Vega
Häftad, Engelska, 2010
Del i serien Frontiers in Electronic Testing
1 585 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Fler format och utgåvor
Beskrivning
This book presents the development and experimental validation of the structural test strategy called Oscillation-Based Test -- OBT in short. The results presented here assert, not only from a theoretical point of view, but also based on a wide experimental support, that OBT is an efficient defect-oriented test solution, complementing the existing functional test techniques for mixed-signal circuits.
Produktinformation
Utforska kategorier
Mer om författaren
Innehållsförteckning
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
Prithviraj Kabisatpathy, Alok Barua, Satyabroto Sinha
Inbunden
1 059 kr
Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
Fernanda Lima Kastensmidt, Ricardo Reis
Inbunden
1 059 kr
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Inbunden
2 111 kr
Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
M. Bushnell, Vishwani Agrawal
Inbunden
1 375 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits
Gloria Huertas Sánchez, Diego Vázquez García de la Vega, Adoración Rueda Rueda, Jose Luis Huertas Díaz
Inbunden
1 585 kr
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
Jose Luis Huertas Díaz
Inbunden
1 585 kr
Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits
Jose Luis Huertas Díaz
Häftad
1 585 kr
- Nyhet
Hjärnans akilleshälar : hur din hjärna lurar dig, och vad du kan göra åt det
Anders Hansen
Inbunden
289 kr
- Nyhet
- -22%
Del 1
- -30%
- Signerad!
Del 11
- -22%
- Nyhet