• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Kemi
    4. Analytisk kemi

    Transition-Metal Defects in Silicon

    New Insights from Photoluminescence Studies of Highly Enriched 28Si

    AvMichael Steger

    Inbunden, Engelska, 2013

    Del i serien Springer Theses

    1 086 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Fler format och utgåvor

    E-bok

    1 413 kr

    Häftad

    1 086 kr

    Beskrivning

    The fundamental properties of deep luminescence centres in Si associated with transition metals such as Cu, Ag, Au, and Pt have been a focus of interest for decades, both as markers for these deleterious contaminants, and also in the quest for efficient Si-based light emission.   This dissertation presents the results of ultra-high resolution photoluminescence studies of these centres in specially prepared, highly enriched 28-Si samples. The greatly improved spectral resolution due to this enrichment led to the discovery of isotopic fingerprints. These fingerprints have revealed that the detailed constituents of all of the centres previously studied had been identified incorrectly. They also revealed the existence of several different families of impurity complexes containing either four or five atoms chosen from Li, Cu, Ag, Au, and Pt. These centres’ constituents have been determined, together with no-phonon transition energies, no-phonon isotope shifts, local vibrational mode energies, and the isotope shifts of the local vibrational mode energies. The data presented here for these centres should prove useful for the currently sought theoretical explanations of their formation, stability, and properties.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2013-03-19
    • Mått:155 x 235 x 11 mm
    • Vikt:342 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Serie:Springer Theses
    • Antal sidor:97
    • Upplaga:2013
    • Förlag:Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
    • ISBN:9783642350788

    Utforska kategorier

    • Analytisk kemi inom Naturvetenskap och teknik
    • Materietillstånd inom Naturvetenskap och teknik
    • Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Dr. Michael Steger System Engineerat Carl Zeiss SMS GmbH Halle-Neustadt Area, Germany Department of Physics Simon Fraser University Burnaby, BC V5A 1S6 Canada

    Innehållsförteckning

    • Introduction and Background.- History of the Observed Centres in Silicon.- Experimental Method.- Results.- Discussion and Conclusion.