Elektronenmikroskopie in der Festkörperphysik

AvH. Bethge,J. Heydenreich

Häftad, Tyska, 2012

757 kr

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Produktinformation

Utgivningsdatum:2012-03-17
Mått:170 x 244 x 31 mm
Vikt:967 g
Format:Häftad
Språk:Tyska
Antal sidor:564
Förlag:Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN:9783642932120

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Innehållsförteckning

I: Elektronenmikroskopische Untersuchung verfahren.- 1. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.- 2. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Bildentstehung.- 3. Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie.- 4. Höchstspannungs-Elektronenmikroskopie.- 5. Raster-Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.- 6. Raster-Elektronenmikroskopie: Physikalische Grundlagen der Kontrastentstehung.- 7. Indirekte Oberflächenabbildung durch Abdruck- und Dekorationstechnik.- 8. Spezielle Verfahren zur Direktabbildung von Oberflächen: Emissions-Elektronenmikroskopie, Spiegel-Elektronenmikroskopie.- 9. Analytische Elektronenmikroskopie: Kombination von abbildenden und spektrometrischen Methoden.- 10. Bildverarbeitung mit optischen und elektronischen Verfahren.- II: Anwendungen in der Festkörperphysik.- 11. Gitterdefekt-Abbildung durch elektronenmikroskopischen Beugungskontrast.- 12. Elementare Vorgänge bei der plastischen Verformung.- 13. Mikroprozesse des Bruches.- 14. Elektronenmikroskopische Fraktographie.- 15. Morphologie der Polymere.- 16. Defekte in Halbleitern und Bauelementestrukturen.- 17. Molekulare Prozesse auf Kristalloberflächen.- 18. Wachstum und Struktur dünner Schichten.- 19. Versetzungsstrukturen in Korngrenzen und Phasengrenzen.- 20. Domänenstruktur ferroelektrischer und ferromagnetischer Festkörper.- Anhang 1: Theoretische Grundlagen des elektronenmikroskopischen Beugungskontrastes (einschl. Computersimulation der Abbildung von Kristalldefekten).- K. Scheerschmidt.- Anhang 2: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie: Präparationstechnischer Überblick.- H. Bartsch.- Literaturübersicht zur Elektronenmikroskopie.

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