Ausgewählte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde

AvG. Dlubek,B. Kämpfe

Häftad, Tyska, 2012

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Produktinformation

Utgivningsdatum:2012-01-22
Mått:152 x 229 x 17 mm
Vikt:438 g
Format:Häftad
Språk:Tyska
Antal sidor:296
Förlag:Springer Verlag GmbH
ISBN:9783709195048

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Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

Innehållsförteckning

1. Einführung.- 1.1. Stoffeigenschaften — systematische Aspekte.- 1.2. Strukturelle Einflußfaktoren auf die makroskopischen Stoffeigenschaften.- 1.3. Untersuchung von Materialzusammensetzung und -struktur.- 1.4. Erläuterungen zu einigen Begriffen der Elektronenstruktur.- 2. Thermodynamische Untersuchungsmethoden.- 2.1. Einleitung.- 2.2. Metallkundliche Probleme und die dafür interessanten thermodynamischen Untersuchungsmethoden.- 2.3. Kalorimetrische Untersuchungsmethoden.- 2.4. Gleichgewichtsmethoden zur Untersuchung von Metallen und Legierungen.- 3. Quantitative Metallographie.- 3.1. Gegenstand der quantitativen Metallographie.- 3.2. Systematisierung des Gefügeaufbaus nach geometrischen Gesichtspunkten.- 3.3. Halbquantitative metallographische Untersuchungsverfahren.- 3.4. Grundlegende Arbeitsverfahren.- 3.5. Hinweise zur Aufnahme und Darstellung von Größenverteilungen.- 3.6. Hilfsmittel und Geräte für die quantitative Metallographie.- 3.7. Anwendungsbeispiele für quantitative metallographische Untersuchungen.- 4. Röntgenfeinstrukturanalyse.- 4.1. Grundlagen.- 4.2. Durchführung von Vielkristalluntersuchungen.- 4.3. Auswertung der Röntgeninterferenzen.- 5. Neutronenstreuung.- 5.1. Grundlagen.- 5.2. Experimentelles.- 5.3. Kristallstrukturuntersuchungen.- 5.4. Phasenanalyse.- 5.5. Texturuntersuchungen.- 5.6. Untersuchung magnetischer Momente und Strukturen.- 6. Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie.- 6.1. Einführung.- 6.2. Probenpräparation.- 6.3. Gerätetechnik.- 6.4. Elektronenmikroskopisches Bild.- 6.5. Anwendungen.- 7. Elektronenstrahl-Mikroanalyse und Rasterelektronen-Mikroskopie.- 7.1. Einführung.- 7.2. Grundlagen der Elektronenstrahl-Mikroanalyse.- 7.3. Gerätetechnik.- 7.4. Rasterelektronen-Mikroskopie.- 7.5. Röntgenmikroanalyse.- 8.Sekundärionen-Massenspektrometrie und lonenstrahl-Mikroanalyse.- 8.1. Einführung.- 8.2. Grundlagen der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS).- 8.3. Gerätetechnik.- 8.4. Anwendung der SIMS.- 9. Photoelektronen-Spektroskopie.- 9.1. Prinzipien der Photoelektronen-Spektroskopie an Festkörpern.- 9.2. Apparative Voraussetzungen.- 9.3. Aufnahme von ESCA-Spektren.- 10. Auger-Elektronenspektroskopie.- 10.1. Grundlagen.- 10.2. Experimentelle Technik.- 10.3. Anwendungen in der Werkstofforschung.- 11. Mössbauer-Spektroskopie.- 11.1. Grundlagen.- 11.2. Experimentelle Aspekte.- 11.3. Anwendungsmöglichkeiten.- 12. Positronenannihilation.- 12.1. Einführung.- 12.2. Grundlagen der Methode.- 12.3. Meßtechnik.- 12.4. Theorie der Positronenannihilation in Realkristallen.- 12.5. Anwendung der Positronenannihilation zur Untersuchung von Kristallbaufehlern in Metallen.- Sachwörterverzeichnis.