Maria F Ebel – författare

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2 produkter

1. 

   Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS

   Av Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek m. fl.

   Inbunden, 1986

   1994 kr

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2. 

   Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

   Av M. Grasserbauer, H.J. Dudek m. fl.

   Häftad, 2011

   760 kr

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   In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflächenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Maße für die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und häufig mit­ einander kombiniert werden, nämlich SIMS, AES und XPS in einer …