• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Fysik

    Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry

    A User's Guide

    AvHarland G. Tompkins,William A. McGahan

    Inbunden, Engelska, 1999

    2 102 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Beskrivning

    While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. A guide for practitioners and researchers in a variety of disciplines, it addresses a broad range of applications in physics, chemistry, electrical engineering, and materials science.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:1999-04-06
    • Mått:160 x 240 x 20 mm
    • Vikt:533 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:248
    • Förlag:John Wiley & Sons Inc
    • ISBN:9780471181729

    Utforska kategorier

    • Fysik inom Naturvetenskap och teknik
    • Maskinteknik och material inom Naturvetenskap och teknik

    Mer om författaren

    Harland Tompkins retired from full-time employment in 2001. During his full-time employment, he was employed by General Electric Co., Bell Laboratories, the Idaho National Engineering Lab, and Motorola.William A. McGahan is the author of Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide, published by Wiley.

    Innehållsförteckning

    • Perspective and History. Fundamentals. Optical Properties of Materials and Layered Structures. Instrumentation. The Anatomy of a Reflectance Spectrum. Aspects of Single-Wavelength Ellipsometry. The Anatomy of an Ellipsometric Spectrum. Analytical Methods and Approach. Optical Data Analysis. Quality Assurance. Very Thin Films. Roughness. Appendices. Index.