• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Ljudböcker
  • Pocketböcker
  • Spel och pussel

Pocketfynda! Hundratals böcker för 49 kr/st →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Data och IT
    2. Grafik och bildbehandling
    3. CAD-program

    Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology

    AvY Zhao,T Kramer

    Inbunden, Engelska, 2011

    1 613 kr

    Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

    Fler format och utgåvor

    Häftad

    1 613 kr

    Beskrivning

    Dimensional metrology is an essential part of modern manufacturing technologies, but the basic theories and measurement methods are no longer sufficient for today's digitized systems. The information exchange between the software components of a dimensional metrology system not only costs a great deal of money, but also causes the entire system to lose data integrity.Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology analyzes interoperability issues in dimensional metrology systems and describes information modeling techniques. It discusses new approaches and data models for solving interoperability problems, as well as introducing process activities, existing and emerging data models, and the key technologies of dimensional metrology systems. Written for researchers in industry and academia, as well as advanced undergraduate and postgraduate students, this book gives both an overview and an in-depth understanding of complete dimensional metrology systems. By covering in detail the theory and main content, techniques, and methods used in dimensional metrology systems, Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology enables readers to solve real-world dimensional measurement problems in modern dimensional metrology practices.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2011-08-29
    • Mått:155 x 235 x 24 mm
    • Vikt:746 g
    • Format:Inbunden
    • Språk:Engelska
    • Antal sidor:367
    • Upplaga:2011
    • Förlag:Springer London Ltd
    • ISBN:9781447121664

    Utforska kategorier

    • CAD-program inom Data och IT
    • Tillämpad matematik inom Naturvetenskap och teknik
    • Naturvetenskap:allmänt inom Naturvetenskap och teknik

    Innehållsförteckning

    • 1. Introduction.- 2. Practices of Information Modeling.- 3. Product Definition and Dimensional Metrology Systems.- 4. High-Level Dimensional Metrology Process Planning.- 5. Low-Level Dimensional Metrology Process Planning and Execution.- 6. Quality Data Analysis and Reporting.- 7. Dimensional Metrology Interoperability Issues.- 8. Dimensional Metrology for Manufacturing Quality Control.- 9. Outlook for the Future of Dimensional Metrology Systems Interoperability.