Övrigt, Engelska, 2018
Electron Beam–Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
1550 kr
Tillfälligt slut
Beskrivning
Produktinformation
- Märke: John Wiley & Sons Inc
- Utgivningsdatum: 2018-04-16
- Höjd: 150 x 250 x 15 mm
- Vikt: 666 g
- Språk: Engelska
- Förlag: John Wiley & Sons Inc
- EAN: 9781118696545
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.