Residual Stress

Measurement by Diffraction and Interpretation

AvJerome B. Cohen,Ismail C. Noyan

E-bok
PDF, Engelska, 2013

2 097 kr

Läs direkt i Bokus Reader – eller ladda ned till din enhet (PDF kräver ofta zoom och scroll på små skärmar).

Produktinformation

Utforska kategorier

Hoppa över listan

Mer från samma författare

Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki - Advances in X-Ray Analysis, Inbunden

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki

Inbunden, 1986

2 205 kr

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki - Advances in X-Ray Analysis, Inbunden

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki

Inbunden, 1986

2 205 kr