Inbunden, Engelska, 2015
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Av Sarah Fearn
1670 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar. Fri frakt över 249 kr.
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2015-10-16
- Mått: 178 x 254 x 6 mm
- Vikt: 340 g
- Format: Inbunden
- Språk: Engelska
- Serie: IOP Concise Physics
- Antal sidor: 66
- Förlag: Morgan & Claypool Publishers
- ISBN: 9781643279107
Utforska kategorier
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.