Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

AvSarah Fearn

Inbunden, Engelska, 2015

Del i serien IOP Concise Physics

1 670 kr

Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar. Fri frakt över 249 kr.

Fler format och utgåvor

Produktinformation

Utforska kategorier

Hoppa över listan

Mer från samma serie