• Fri frakt över 249 kr
  • •
  • Snabba leveranser
  • •
  • Billiga böcker
Kundservice

Du är på sajten för privatpersoner.

Företag, bibliotek eller offentlig verksamhet?

Du handlar på classic.bokus.com, där alla dina funktioner finns intakta.
Till classic.bokus.com
Bokus logotyp. Gå till startsidan.
  • Erbjudanden
  • Nyheter
  • Student
  • Topplistor
  • Barn & ungdom
  • Bokus Play
  • E-böcker
  • Pocketböcker
  • Spel & pussel

10% rabatt på allt med kod: NYSTART10 →

Sidfot

Mina sidor

    Hjälp

    • Kundservice
    • Vanliga frågor och svar
    • Frakt och leverans
    • Retur vid ångerrätt
    • Reklamera vara
    • Betalning
    • Köpvillkor
    • Allmänna villkor
    • Information om webbplatsens tillgänglighet

    Om Bokus

    • Om oss
    • Pressrum
    • För studenter
    • För företag
    • För bibliotek och offentlig verksamhet
    • För leverantörer
    • Hållbarhet

    Populärt

    • Aktuella erbjudanden
    • Presentkort
    • Studentlitteratur
    • Nya böcker
    • Topplistor
    • Signerade böcker
    • Engelska böcker

    Inspiration

    • Boktips
    • BookTok
    • Populära bokserier
    • Barnbokskaraktärer
    • Populära författare
    Logotyp för Bokus
    Följ oss på Facebook (extern länk)Följ oss på Instagram (extern länk)Följ oss på YouTube (extern länk)Följ oss på TikTok (extern länk)
    bokus @ CookiesAnpassa cookiesIntegritetspolicyKöpvillkor
    Till Citymail hemsida (extern länk)Till Budbee hemsida (extern länk)Till Postnord hemsida (extern länk)Till Schenker hemsida (extern länk)Till Early Bird hemsida (extern länk)Till Walleys hemsida (extern länk)
    1. Naturvetenskap och teknik
    2. Matematik och naturvetenskap
    3. Naturvetenskap:allmänt

    Transmission Electron Microscopy

    The Companion Volume

    AvDavid B. Williams,C. Barry Carter

    E-bok
    PDF, Engelska, 2026

    1 570 kr

    Läs direkt i Bokus Reader – eller ladda ned till din enhet (PDF kräver ofta zoom och scroll på små skärmar).

    Beskrivning

    This volume is the second edition of Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry building upon the foundation of the first edition while significantly expanding and updating its scope. The book remains true to its mission of being a student-focused textbook, designed to complement the bestselling Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, by Williams and Carter.As a comprehensive guide to advanced topics in TEM (Transmission Electron Microscopy), this companion covers the latest technological advancements, new applications, and enduring techniques essential to the field. The chapters explore rapidly evolving areas like in-situ experiments, electron diffraction, STEM, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging, holography, and tomography. It also emphasizes both theoretical and practical aspects of TEM, with expert insights from world-renowned researchers.Since the first edition of this book, the field of TEM has advanced significantly, particularly in the realms of computer-controlled instrumentation and data acquisition. This edition reflects the maturation of techniques like cryogenic electron microscopy, holography, and ptychography, all of which are now more accessible due to software-driven innovations.As in the first edition, this volume includes two sets of questions at the end of each chapter: one for self-assessment and another suitable for homework assignments. The text encourages a thoughtful, interactive learning process, prompting students to engage deeply with the material and further explore scientific literature and resources.Richly illustrated with high-quality color figures, this new edition offers unparalleled visual representations of the complex phenomena under study. It provides clarity on key challenges and pitfalls in modern TEM techniques, making it an essential resource for both novice and experienced microscopists.In keeping with its role as a textbook, this companion remains an important resource for graduate students and professionals in materials science, offering detailed discussion and practical guidance on a wide array of TEM technologies and methodologies.

    Produktinformation

    • Utgivningsdatum:2026-05-28
    • Språk:Engelska
    • Filformat:PDF
    • Kopieringsskydd:LCP
    • ISBN:9783031807893
    • Förlag:Springer Nature Switzerland

    Utforska kategorier

    • Naturvetenskap:allmänt inom Naturvetenskap och teknik
    • Materietillstånd inom Naturvetenskap och teknik
    • Analytisk kemi inom Naturvetenskap och teknik